瞄準汽車晶片市場致茂半導體測試解決方案 SEMICON China盛大展出

By PR Newswire on 17 Mar 2021

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桃園2021年3月17日 /美通社/ -- 致茂電子深耕半導體測試領域已20年，在中國擁有廣大愛好者。從基礎的4-bit 處理器到高端的 AI 人工智能芯片，處處都能看到致茂半導體測試機台的身影。

此次展出的Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC測試系統，為3380系列平台往高端技術的延伸。其數字信道速率(data rate)最高可達1Gbps、最高512個並行測試的能力及512M Word 測試數據存儲器深度，均可滿足高端芯片的測試需求，並同時達到降低測試成本的目標。致茂半導體測試解決方案支持全球四大導航系統，整合旗下 Adivic MP5806S RF 測試分析儀，內建各種不同的調變與解調協議，更提供定位系統所需的標准測試方法。此外，HDAVO 高性能混合信號方案搭配多種無線射頻測試儀，是高端智能音箱與無線耳機測試最具信價比的組合，提供了 32 個射頻 (RF) 通道，可以進行大量並行測試，同時兼顧成本、產量與質量。

Chroma 3300 PXIe半導體測試系統是市面上最具彈性，功能最完整的測試機台。它承襲了 Chroma 3380P 系列的設計與技術優勢，使用新一代 CRAFT-Plus 軟件進一步支持了 Microsoft Visual Studio 2019 的許多優點，使得整合第三方之 PXIe 儀表更加簡易。非常適合微控制器、微機電(MEMS)傳感器、射頻放大器 (RF PA) 與 CMOS 顯像傳感器(Image Sensor)的測試使用。

Chroma 3200 Versatile Platform 為一款可自由搭配的 SLT Test Cell 測試平台，使用靈活自如的Robot取放測試芯片，同時可選配31K (溫控-40~+150°C)，或更高階的32K(溫控-70~+150°C) ATC 溫控系統，來滿足客戶對溫控測試的需求。Chroma 的虛擬生產監控工具(CVOT)可遠程追蹤監控產品測試流程，透過大數據預測機台測試效率，大幅縮短出貨時間並提高產品測試良率，也能利用虛擬眼鏡的軟硬件結合，可遠程示範維修操作，解決因疫情期間，技術人員無法到現場維修的狀況。