Chroma真無線藍芽耳機測試解決⽅案滿⾜⾼階與基礎測試需求

By PR Newswire on 20 Feb 2020

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桃園2020年2月20日 /美通社/ -- Chroma ATE Inc. 致茂電子推出真無線藍芽耳機（True Wireless Stereo，以下簡稱 TWS）晶片完整測試方案，整合無線 RF、MCU 測試、數位電路、類比電路，以及音頻混合訊號量測。超高性價比的 Chroma 3380測試系統滿足價格敏感的晶片設計商，進階版 Chroma 3680測試系統，能提供快速且完整的測試方案，滿足高階高感度的 TWS 晶片測試需求。

TWS 晶片在近年來應用越來越廣泛，從剛開始僅限於安裝在耳機內，處理藍芽與音頻訊號的單純晶片，TWS 使用的晶片已經發展到智慧音箱、無線音箱，甚至穿戴裝置都可以共用。也因功能急速整合，測試從單純的無線藍芽測試、數位測試與音頻測試，延伸到電源、記憶體、甚至感測器等。

Chroma 半導體測試解決方案在各種半導體測試應用耕耘多年，高度軟體與硬體整合已獲業界肯定，可同時提供價格合理、品質精良的數位與類比測試，Chroma 3380在中國 MCU 市場更是位居領先地位，除了可以測試 Bluetooth RF 外，在音頻測試表現上可提供超過90dB 的信噪比，一站完成所有測試需求。針對高階高感度產品，Chroma 3680系列可以進行高速訊號測試，提供精準的電壓電流測試，其混合訊號測試更提供超過 110dB的信噪比，加上快速 RF 訊號連接介面，可更穩定測試高階 TWS 產品。